| 1月19日［木］ 13:30～16:00 |
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SMT実装工程の良品生産システムの提案
［講師］
パナソニック ファクトリーソリューションズ（株）
R&Dセンター良品生産システムグループ 参事
井上 雅文
＜講演内容＞
高機能化するモバイル機器の高密度実装を中心に、検査、解析技術を用いて歩留まり、信頼性を向上する良品生産システムを提案する。
＜講演者プロフィール＞
1987年3月 国立宇都宮大学 工学部 精密工学科 卒業
1987年4月 マツダ（株）入社
1991年退社
1991年 九州松下電器（株）入社
2003年 パナソニック ファクトリーソリューションズに社名変更
1991年 リフロー炉の開発
1994年 ロータリー式チップマウンタ開発
2001年 モジュラーマウンタ開発
2003年 APC実装システム開発
2006年 実装プロセス開発
2009年より良品生産システムの開発を担当し現在に至る。
外観検査技術とトレーサビリティ
［講師］
東レエンジニアリング（株）
エレクトロニクス事業本部 ディスプレイシステム事業部
DP営業部 MED課 課長
人見 浩蔵
＜講演内容＞
長年培ったウェーハ外観検査技術を核に、ダイシング工程、チップ工程での検査に適用範囲を拡大し、出荷保証、歩留向上に貢献する。トレーサビリティ技術との組み合わせによる、出荷品の管理も提案する。
＜講演者プロフィール＞
1993年3月 兵庫県立姫路工業大学（現在の兵庫県立大学）を卒業
液晶製造会社を経て、
2006年8月 東レエンジニアリング（株）に入社。DP営業部に所属し、
主に半導体業界向け検査／計測装置を担当し、現在に至る。
微小発熱解析と高分解能X線CTの組合せによる
完全非破壊故障解析ソリューションの提案
［講師］
丸文（株）
システム営業本部 営業第2部 科学機器課 係長
清宮 直樹
＜講演内容＞
リアルタイムロックイン発熱解析による不具合部位特定と高分解能X線CTによる不具合原因の非破壊観察のコンビネーションは、『解析時間の短縮』と『解析の成功率向上』を実現する画期的なソリューションである。
＜講演者プロフィール＞
1995年3月 早稲田大学卒業
1995年4月 丸文（株）に入社 産業機器部へ所属し、ＦＡシステムの販売を担当
2002年より （株）ユニハイトシステム製解析用X線CT装置のマーケティングと販売を担当
2010年より DCGシステムズ（株）製発熱解析装置の取扱を開始し、現在に至る。
（敬称略）
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